低電容探頭，P6158、P6150，測試ECL、CMOS和其它邏輯電路上的低壓信號時，需要使用低電容探頭來捕獲**的信號，同時*大限度地減小對被測設(shè)備的負(fù)載影
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產(chǎn)品名稱: 低電容探頭，P6158、P6150，測試ECL、CMOS和其它邏輯電路上的低壓信號時，需要使用低電容探頭來捕獲**的信號，同時*大限度地減小對被測設(shè)備的負(fù)載影
產(chǎn)品型號: P6158、P6150
產(chǎn)品展商: 泰克/Tektronix
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡單介紹
測試ECL、CMOS和其它邏輯電路上的低壓信號時，有一點很重要，那就是需要使用低電容探頭來捕獲**的信號，同時*大限度地減小對被測設(shè)備的負(fù)載影響。泰克可以提供目前市場上帶寬*高、電容*低的探測解決方案。
低電容探頭，P6158、P6150，測試ECL、CMOS和其它邏輯電路上的低壓信號時，需要使用低電容探頭來捕獲**的信號，同時*大限度地減小對被測設(shè)備的負(fù)載影
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品系列
衰減
*高電壓
帶寬
輸入阻抗
P6158
20:1
22 VRMS (DC+pkAC)
3 GHz
要求50 O的輸入阻抗
P6150
1X: 1:1
10X: 10:1
12.5 VRMS (DC+pkAC)
(收示波器輸入限制或 42 VRMS)
1X: 3 GHz
10X: 9 GHz
要求50 O的輸入阻抗
